УДК 519.718

О полных тестах относительно вытесняющих неисправностей входов схем / Е. В. Морозов. // Вестн. Моск. ун-та. Сер. 1, Математика. Механика. 2015. № 1. С. 55-59.

Рассматриваются неисправности входов схем, при которых выходное значение неисправной схемы определяется только исправными входами. Показано, что функция Шеннона длины проверяющего теста для данных неисправностей равна 2n-\log_2{n}+O(\log_2{\log_2{n}}), а функция Шеннона длины диагностического теста асимптотически равна 2^n.

Ключевые слова: булева функция, функция Шеннона, тесты.

Библиогр. 6.